淺析X熒光光譜儀XRF的優勢所在

　　X熒光光譜儀XRF整套技術，含多道分析、電氣控制、機械結構和分析軟件?？捎糜诔煞址治?、礦物分析、貴金屬分析和鍍層測厚分析等。

　　X熒光光譜儀XRF相對于市場同類儀器，在成分含量分析算法上有以下優勢：

　　1、一鍵式自動元素識別，識別準確率>95%。元素X熒光特征峰比較復雜，一般的自動識別很差，往往需要人工識別。

　　2、自動識別逃逸峰、合峰。一般的沒有此識別功能，而是靠人工經驗去扣除。

　　3、利用卡爾曼算法對重疊峰進行自動分離。國內光譜對重疊峰分離多還是采用經驗法扣除。

　　4、基本參數法（FP法）一直是XRF研究的難題，國內能真正做好FP法的幾乎沒有，雖然很多廠商宣稱自己的軟件實現了FP法，但往往只能用于大致的定量分析，根本達不到要求。而我們的FP算法在無標樣情況下能達到主要元素相對誤差在1%以內，少量標樣就能實現大部分元素相對誤差在2%以內。

　　5、理論系數法。國內X熒光光譜儀XRF多是用經驗系數法，需要大量標樣。我們在FP法基礎上，采用系數校正數學模型，開發出可以實用的理論系數法，綜合zui接近FP法，但更適合于輕基體樣品分析。

　　6、化合物分析。目前能量色散XRF對硫（S）之前的元素很難檢測，一般往往忽略了輕元素對定量分析的影響導致有時誤差較大。因為FP法的實現，考慮了吸收和增強效應，對化合物分析結果有不可比擬的優勢，在地質、礦產、冶金等行業有更好的應用。

　　7、模式識別功能。普遍廠商的X熒光光譜儀XRF不帶樣品自動識別功能，只能用于已知材料的定量測試。對于未知材料測試容易造成較大誤差。